X荧光光谱的基体效应的种类与分析

在X射线荧光分析中，随着相对高精度和稳定设备的发生和发展，基材效应已成为原素定量分析和测量中分析偏差的来源。基材效应是指样品较基本的化学成分和物理**化学条件的变化，以及对射线强度分析的影响。样品较基本的化学成分一般是指包括分析元素在内的主要元素；样品物理**化学条件一般包括固体粉末粒度、样品表面光滑度或表面粗糙度、样品均匀性及其原素在样品中的**化学状态。因此，基材效应可分为两种：
1)吸收和激起(提高)效应
①原级入射线进入样品时的吸收效应；
②荧光谱线被样品吸收或分析原素受样品中其他元素的影响；
③三级激起效应。
随着样品基材化学成分的不同，上述吸收和激起效应发生变化。
2)其他物理效应
①样品的均匀性、粒度和表面效应；
②**化学态的变化对分析线的强度有害。
以上两类物理**化学效应，尤其是**类，往往会对分析线的强度进行精确测量产生重要偏差。
二、吸收和激起效应
中短波侧给出的元素一定的吸收限，质量透射系数pm快速伴随光波长λ改进和增加，依据式的增加μm=Kλm和勒鲁的研究成果，针对多个关键家谱图，0.18-10A的波长，λ幂值m变为2.1~2.8中间。因此，短波侧光谱线越接近吸收限，吸收或损耗就越大。而且，对于一个地图，因为km随着变化的不断变化，样品中的吸收和激发效应也随着光谱的光波长而不断变化，直到光波长增加到一定的吸收限制，质量传输系数pm突然发生了变化。
在吸收和激起效应中，较重要的是原级入射线进入样品时的吸收效应和荧光谱线出射时样品的吸收效应或其他元素的继发效应。对于化学成分不同类型的样品，当分析元素含量相同时，吸收和激起效应反映在对同一分析线强度的危害上，关键原级入射线与分析线协同质量透射系数的差异。
三、粒度效应
在荧光强度的推导公式中，假设样品均匀光滑。但事实上，只有液体样品或**属或一些铝合金样品才能满足这一条件。对于一般固体样品，特别是粉末样品，往往存在样品不均匀、粒度效应和表面效应。
对称样品，对于固态粉末样品，是指粉末粒度和化学成分完全相同的样品。研究表明，在已知的卡紧份额下，粒度越低，荧光谱强度越大。对于给定的粒度，压力越大，即卡紧份额越低，荧光谱抗压强度越高。不对称样品不同。在不均匀样品中，有许多不同粒度或化学成分的颗粒，影响荧光谱抗压强度的因素将更加复杂。
四、表面效应
样品表面状况与荧光光谱强度之间的关系不容忽视。当样品由耐磨材料、锯片或锋形材料制成一定尺寸的小物件时，表面需要适度抛光或抛光。
荧光光谱的抗压强度不仅与样品的表面结构和纹沟的特性有关，还受到样品部位、纹沟和X射线进出方向的危害。对于后一种，样品可以在测量过程中同时旋转或减少去除。如果不能旋转，纹沟的方向应与出射线和出射线平行。
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