元素分析范围硫(S)~ 铀(U)
分析检出限1ppm
分析含量ppm ~ 99.99%
探测器探测器
X光管X光管
是生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售一体型企业。 2011年1月25日,有害元素光谱仪仪器在深圳创业板块上市。代码为300165。分析仪器行业的家也是目**家上市公司,公司现有员工1100人,包括研发部、技术部、生产部、国内业务部及海外市场部、品管部、计划部、采购部、仓管部、人力资源部、财务部、及董秘处和行政部等部门,且公司规模日益壮大。公司拥有的X荧光分析技术领域的队伍,具有雄厚的资金势力、的技术水平、服务标准和先进的管理模式。目前公司已被授予“国家民营科技企业”、“江苏省**企业”、“苏州市分析仪器工程技术研究中心”、 “江苏省昆山市企业技术中心”、“江苏省昆山市产品质量监督检验所RoHS检测二室”等称号。
影响测试结果的因素:
表面是否有油污,或重金属污染。
表面有涂附层或电镀层。
金属表面有电镀层的,要测试内部金属的有害元素指标,应该尽可能将表面的镀层去处后测试。如:金属表面镀镍镀锌,可以使用“测有色金属中CrCdPbHg”项直接测试,但表面的镀层影响内部基材测试结果。
如果金属表面镀锡,将使用“测锡中的Pb”项测试,如果要测试基材的有害成分,将需要将表面的镀层去除。
与其它类金属物件或塑胶件混合测试。
样品过小,而测试时间比较短的情况下。
未按规定使用准直器。

采用XRF设备应用于有害元素测试中的优势:
1.分析样品无损、,针对未知样品可以分析;
2.可采用小型的XRF设备进行便携测试。
3.在保证工作曲线完善和样品前处理的情况下,其测试结果重复性好、准确度高。
4.多元素可同时测试得出结果,一次可测试元素二十多个以上;
5.可用于生产中的过程内部控制,测试可达到在线、速度快,反应生产线等特点。

X射线荧光光谱仪 -主要用途
仪器是较新型X射线荧光光谱仪,具有重现性好,测量速度快,有害元素光谱仪供应的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水平,分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析,薄膜分析。测量样品的大尺寸要求为直径51mm,高40mm.
X射线荧光光谱仪分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素,因此测量速度通常比同时式慢,适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成,对测量速度要求高和批量试样分析,顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 能量色散X射线荧光光谱能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪,分辨率较低的便携式光X射线荧光光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器,它们不需要液氮冷却。近年来,采用电致冷的半导体探测器,高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。

X荧光分析仪器的种类
现在X荧光分析仪器主要分为两大类,一是:波长色散X荧光光谱分析仪;二是:能量色散X荧光分析仪器。这两种仪器的测试原理有所区别,在对样品激发其元素的特征X射线时,两种仪器的设计原理是相同的,在对特征X射线进行探测时,波长波长色散X荧光光谱分析仪,是检测的特征X射线的波长,即,X射线的波长性;而能量色散X荧光分析仪器,检测的是特征X射线的能量,即,X射线的粒子性。两种仪器的设计结构,探测方法有很大的区别。有害元素光谱仪仪器公司生产的EDX系列X荧光光谱仪器,就是采用了能量色散的原理设计制造。
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应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测
http://rohs168168.b2b168.com