元素分析范围硫（S）~ 铀（U）
分析检出限1ppm
分析含量ppm ~ 99.99％
探测器探测器
X光管X光管
《电子信息产品中有毒有害物质的检测方法》（以下简称《检测方法》，标准号为 SJ/T 11365-2006）对RoHS要求中有害元素测试方法给予了限定。其中X射线荧光光谱法（XRF）作为一种快捷、方便的方法被制定为筛选方法。使用X射线荧光光谱法（XRF）可对铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr）以及溴（Br）五种元素的相应标准样品进行测试。可是基于 XRF的原理所获得的结果只是元素的含量，也就是说如果这种筛选测试得到铬（Cr）或溴（Br）的含量，即使他们标也并不能代表有害物质（Cr VI）与阻燃剂PBB和PBDE）标，这个测试结果（指含有）只是含有相应有害物质的必要条件而并非充分条件。这也就是限值表中没有这两种有害物质不合格的限值判断依据的原因。
X射线荧光光谱仪 -主要用途
仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，有害元素光谱仪供应的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的大尺寸要求为直径51mm,高40mm.
X射线荧光光谱仪分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析,顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 能量色散X射线荧光光谱能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光X射线荧光光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。近年来，采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。
X荧光分析仪器的种类
现在X荧光分析仪器主要分为两大类，一是：波长色散X荧光光谱分析仪；二是：能量色散X荧光分析仪器。这两种仪器的测试原理有所区别，在对样品激发其元素的特征X射线时，两种仪器的设计原理是相同的，在对特征X射线进行探测时，波长波长色散X荧光光谱分析仪，是检测的特征X射线的波长，即，X射线的波长性；而能量色散X荧光分析仪器，检测的是特征X射线的能量，即，X射线的粒子性。两种仪器的设计结构，探测方法有很大的区别。有害元素光谱仪仪器公司生产的EDX系列X荧光光谱仪器，就是采用了能量色散的原理设计制造。
关于辐射的一些重要数据
一个人一年吸收辐射在2000usv以内是正常的，对身体不会有影响
一般可以在加1000usv，也不会有太大影响，人士（经常使用X荧光仪器的人 ）可以加到20000usv是允许的，有的时候人士可以加到50000usv。
怀孕的人不要过20000usv
法律允许人一年所吸收辐射值为50000usv。
仪器由于包装材料好，不会放出X射线，只有口有X射线。人的手离口近，大概5cm，操作员手吸收辐射值为0.7usv/hr，按工作8小时，1周工作40个小时，一年工作48周计算：
0.7usv×40hr ×48wk=1344usv/年
如果每天用仪器工作2个小时，计算：
0.7usv×10hr ×48wk=336usv/年 (远远小于国家限制）
用仪器对手打1小时，辐射吸收1000usv
注：如使用分离测试在一米外，吸收辐射值可以乎略不记。
影响测试结果的因素：
表面是否有油污，或重金属污染。
表面有涂附层或电镀层。
金属表面有电镀层的，要测试内部金属的有害元素指标，应该尽可能将表面的镀层去处后测试。如：金属表面镀镍镀锌，可以使用“测有色金属中CrCdPbHg”项直接测试，但表面的镀层影响内部基材测试结果。
如果金属表面镀锡，将使用“测锡中的Pb”项测试，如果要测试基材的有害成分，将需要将表面的镀层去除。
与其它类金属物件或塑胶件混合测试。
样品过小，而测试时间比较短的情况下。
未按规定使用准直器。
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测
http://rohs168168.b2b168.com
