元素分析范围硫（S）~ 铀（U）
分析检出限1ppm
分析含量ppm ~ 99.99％
探测器探测器
X光管X光管
RoHS检测仪的原理
X射线光谱仪（rohs检测仪）通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子和控制部件，相对简单。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特征信息。
性能优势
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达100W的功率实现高的测试效率
技术参数
元素分析范围：硫（S）～铀（U）
检出限：1ppm
分析含量：1ppm～99.99％
重复性：0.05％（含量96％以上）
稳定性：0.05％（含量96％以上）
环境温度：15℃～30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：140±5eV
样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
仪器尺寸：550mm×410mm×320mm
仪器重量：45kg
仪器配置
移动样品平台
信噪比增强器
SDD探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
仪器辐射了解
仪器采用X射线管而非放射源，所以不会存在像放射源设备那样存在很大危害
不会受到国家严格限制
使用、运输都很方便
仪器在工作状态下（扣下后或软件开启后），仪器本身，如：手柄、机身都已经安全包装，不会有X射线放出
只有在仪器前方窗口会有X射线光束， 仪器在工作时，前方不要站人，不要把仪器窗口对人。
X射线荧光光谱仪 -主要用途
仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，有害元素光谱仪供应的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的大尺寸要求为直径51mm,高40mm.
X射线荧光光谱仪分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析,顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 能量色散X射线荧光光谱能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光X射线荧光光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。近年来，采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。
影响测试结果的因素：
表面是否有油污，或重金属污染。
表面有涂附层或电镀层。
金属表面有电镀层的，要测试内部金属的有害元素指标，应该尽可能将表面的镀层去处后测试。如：金属表面镀镍镀锌，可以使用“测有色金属中CrCdPbHg”项直接测试，但表面的镀层影响内部基材测试结果。
如果金属表面镀锡，将使用“测锡中的Pb”项测试，如果要测试基材的有害成分，将需要将表面的镀层去除。
与其它类金属物件或塑胶件混合测试。
样品过小，而测试时间比较短的情况下。
未按规定使用准直器。
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测
http://rohs168168.b2b168.com
