X荧光ROHS有害元素光谱仪 有害元素光谱仪仪器

ROHS检测仪的四大基本特点
.ROHS检测仪采用高压电源发生器，大功率300W50KV6mA稳定性：波动为0.1。如没有达到所要的效率及波动偏大，影响到仪器的稳定性及性。ROHS检测仪高压电源设计会延长X光管的寿命；
二.ROHS检测仪大功率X光管：使用寿命5.0万小时，ROHS检测仪器分析仪在吸收先进技术的基础上，创短光路，增强了X光管的功率，激发程度高，有利于仪器的性；同时延长X光管的使用寿命，简化了冷却系统的结构。大幅度降低了维护维修成本；
三.ROHS检测仪冷却系统和电路系统由底层工业级PC104系统控制，有效保护作用；
四.ROHS检测仪探测器：电制冷硅针探测器，美国Amptek生产，分辨数值有140eV等。ROHS检测仪的分辨数值越小，其分辨率就越高。ROHS检测仪器采用先进，分辨率高的电制冷SDD半导体探测器，有利于仪器的稳定性和性，消除其它品牌需要液氮冷却等一些消耗成本和不便。
X射线荧光光谱仪 -主要用途
仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，有害元素光谱仪供应的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的大尺寸要求为直径51mm,高40mm.
X射线荧光光谱仪分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析,顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 能量色散X射线荧光光谱能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光X射线荧光光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。近年来，采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。

X荧光分析仪器的种类
现在X荧光分析仪器主要分为两大类，一是：波长色散X荧光光谱分析仪；二是：能量色散X荧光分析仪器。这两种仪器的测试原理有所区别，在对样品激发其元素的特征X射线时，两种仪器的设计原理是相同的，在对特征X射线进行探测时，波长波长色散X荧光光谱分析仪，是检测的特征X射线的波长，即，X射线的波长性；而能量色散X荧光分析仪器，检测的是特征X射线的能量，即，X射线的粒子性。两种仪器的设计结构，探测方法有很大的区别。有害元素光谱仪仪器公司生产的EDX系列X荧光光谱仪器，就是采用了能量色散的原理设计制造。

影响测试结果的因素：
表面是否有油污，或重金属污染。
表面有涂附层或电镀层。
金属表面有电镀层的，要测试内部金属的有害元素指标，应该尽可能将表面的镀层去处后测试。如：金属表面镀镍镀锌，可以使用“测有色金属中CrCdPbHg”项直接测试，但表面的镀层影响内部基材测试结果。
如果金属表面镀锡，将使用“测锡中的Pb”项测试，如果要测试基材的有害成分，将需要将表面的镀层去除。
与其它类金属物件或塑胶件混合测试。
样品过小，而测试时间比较短的情况下。
未按规定使用准直器。

仪器辐射了解
仪器采用X射线管而非放射源，所以不会存在像放射源设备那样存在很大危害
不会受到国家严格限制
使用、运输都很方便
仪器在工作状态下（扣下后或软件开启后），仪器本身，如：手柄、机身都已经安全包装，不会有X射线放出
只有在仪器前方窗口会有X射线光束， 仪器在工作时，前方不要站人，不要把仪器窗口对人。
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测
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