X射线ROHS有害元素光谱仪 工厂直销

ROHS检测仪采用X射线荧光光谱检测技术，引进美国制造的Si-PIN探测器，提高了检测范围及。卤素ROHS检测仪可准确检测铅、汞、镉、六价铬、、醚等有害重金属物质，广泛应用于电子产品生产、玩具制造、五金制造、海关、质检机构等领域。
ROHS检测仪性能优势介绍针对DX320L在各个领域的广泛应用，根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求，特别设计该款DX320L。应用新一代的高压电源和X光管，提高产的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率；了多年ROHS检测经验，应用新一代先进，分辨率的电制冷SDD半导体探测器,对六种有害元素尤其是Br、Cl等卤素进行了优化,提高仪器测试的稳定性和性。
低检测限满足多需求
1、采用有害元素光谱仪**技术――特的激发X光源，样品激发结构和探测系统，提高仪器元素的检测灵敏度（降低检出限），分析含量一般为0.1ppm到99.9％，比普通XRF仪器金属中Pb有害元素光谱仪供应10倍。
2、采用高分辨率SDD探测器和的数字多道技术，使仪器的计数率上限提高10倍，400W大功率光管的使用同样能够使仪器能够获得高的计数率达到100kcps，仪器元素的检测精度水平大为提高，检测；
3、准直器，滤光片自动切换，可适应不同的样品测试要求
4、二种光路系统跟据需要自由切换，特殊**光路为有利于检测金属中Pb、As、Cr低含量的有害元素。而测非金属有害元素可以采用标准直照射光路测定低含量的有害元素有效。

采用XRF设备应用于有害元素测试中的优势：
1.分析样品无损、，针对未知样品可以分析；
2.可采用小型的XRF设备进行便携测试。
3.在保证工作曲线完善和样品前处理的情况下，其测试结果重复性好、准确度高。
4.多元素可同时测试得出结果，一次可测试元素二十多个以上；
5.可用于生产中的过程内部控制，测试可达到在线、速度快，反应生产线等特点。

仪器辐射了解
仪器采用X射线管而非放射源，所以不会存在像放射源设备那样存在很大危害
不会受到国家严格限制
使用、运输都很方便
仪器在工作状态下（扣下后或软件开启后），仪器本身，如：手柄、机身都已经安全包装，不会有X射线放出
只有在仪器前方窗口会有X射线光束， 仪器在工作时，前方不要站人，不要把仪器窗口对人。

X荧光分析仪器的种类
现在X荧光分析仪器主要分为两大类，一是：波长色散X荧光光谱分析仪；二是：能量色散X荧光分析仪器。这两种仪器的测试原理有所区别，在对样品激发其元素的特征X射线时，两种仪器的设计原理是相同的，在对特征X射线进行探测时，波长波长色散X荧光光谱分析仪，是检测的特征X射线的波长，即，X射线的波长性；而能量色散X荧光分析仪器，检测的是特征X射线的能量，即，X射线的粒子性。两种仪器的设计结构，探测方法有很大的区别。有害元素光谱仪仪器公司生产的EDX系列X荧光光谱仪器，就是采用了能量色散的原理设计制造。
有害元素光谱仪生产的X荧光仪器，就是秉承X荧光的原理设计制造的，同时为了满足不同应用领域的客户，采用化的设计思路，在软件与硬件设计上支持客户应用设计，贴近客户实际使用要求。
产品优势
XRF-X射线荧光光谱仪，ROHS六项的优点主要有六个组成部分，他们分别是：
1.分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，60～200分钟就可以测完样品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl、待测元素。
2.X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在软X射线范围内，这种效应为显著。波长变化用于化学位的测定 。
3. 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
4. ROHS六项是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析.
5. 分析精密度高。
6.制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
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