



产品描述
《电子信息产品中有毒有害物质的检测方法》(以下简称《检测方法》,标准号为 SJ/T 11365-2006)对RoHS要求中有害元素测试方法给予了限定。其中X射线荧光光谱法(XRF)作为一种快捷、方便的方法被制定为筛选方法。使用X射线荧光光谱法(XRF)可对铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、铬(Cr)以及溴(Br)五种元素的相应标准样品进行测试。可是基于 XRF的原理所获得的结果只是元素的含量,也就是说如果这种筛选测试得到铬(Cr)或溴(Br)的含量,即使他们标也并不能代表有害物质(Cr VI)与阻燃剂PBB和PBDE)标,这个测试结果(指含有)只是含有相应有害物质的必要条件而并非充分条件。这也就是限值表中没有这两种有害物质不合格的限值判断依据的原因。
性能特点
高效薄窗X光管,指标达到**水平
的数字多道技术,让测试快,计数率达到100000CPS,高。在合金检测中效果好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置**了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然
标准配置
高效薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
钢铁行业测试配件
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构,力度可靠的**
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
X荧光分析仪器的种类
现在X荧光分析仪器主要分为两大类,一是:波长色散X荧光光谱分析仪;二是:能量色散X荧光分析仪器。这两种仪器的测试原理有所区别,在对样品激发其元素的特征X射线时,两种仪器的设计原理是相同的,在对特征X射线进行探测时,波长波长色散X荧光光谱分析仪,是检测的特征X射线的波长,即,X射线的波长性;而能量色散X荧光分析仪器,检测的是特征X射线的能量,即,X射线的粒子性。两种仪器的设计结构,探测方法有很大的区别。有害元素光谱仪仪器公司生产的EDX系列X荧光光谱仪器,就是采用了能量色散的原理设计制造。
低检测限满足多需求
1、采用有害元素光谱仪专利技术――特的激发X光源,样品激发结构和探测系统,提高仪器元素的检测灵敏度(降低检出限),分析含量一般为0.1ppm到99.9%,比普通XRF仪器金属中Pb有害元素光谱仪供应10倍。
2、采用高分辨率SDD探测器和的数字多道技术,使仪器的计数率上限提高10倍,400W大功率光管的使用同样能够使仪器能够获得高的计数率达到100kcps,仪器元素的检测精度水平大为提高,检测;
3、准直器,滤光片自动切换,可适应不同的样品测试要求
4、二种光路系统跟据需要自由切换,特殊专利光路为有利于检测金属中Pb、As、Cr低含量的有害元素。而测非金属有害元素可以采用标准直照射光路测定低含量的有害元素有效。
仪器辐射了解
仪器采用X射线管而非放射源,所以不会存在像放射源设备那样存在很大危害
不会受到国家严格限制
使用、运输都很方便
仪器在工作状态下(扣下后或软件开启后),仪器本身,如:手柄、机身都已经安全包装,不会有X射线放出
只有在仪器前方窗口会有X射线光束, 仪器在工作时,前方不要站人,不要把仪器窗口对人。
RoHS指令限制使用以下六类有害有毒物质
1. 铅(Pb) 使用该物zhi质的例子:焊料、玻璃、daoPVC稳定剂
2. 汞(Hg)()使用该物质的例子:温控器、传感器、开关和继电器、灯泡
3. 镉(Cd) 使用该物质的例子:开关、弹簧、连接器、外壳和PCB、触头、电池
4. 六价铬(Cr 6+ ) 使用该物质的例子:金属附腐蚀涂层
5. (PBB) 使用该物质的例子: 阻燃剂,PCB、连接器、塑料外壳
6. 多溴二苯醚(PBDE) 使用该物质的例子:阻燃剂,PCB、连接器、塑料外壳
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