X荧光ROHS光谱仪

有害元素光谱仪仪器理解RoHS指令的深远含义,意识到执行指令多电子电器设备制作商、他们的供应链以及消费者的挑战和经济负担.在当前严峻的形式下,呼吁那些制造、分配或出售设备到欧盟的公司要测定受限物质是否存在自己的产品,如果存在,是否在可接受的浓度范围内.目前,**电器厂家均已建立各自的产品质量管理方案,以使其产品符合RoHS/WEEE指令的管制要求.
为了帮助执行**环境保,有害元素光谱仪仪器提供相关分析工具,包括仪器,消耗品,软件和技术支持;为了支持应对RoHS/WEEE指令,我们提供全谱直读电感耦合等离子发射光谱仪(ICP-OES)、 原子吸收光谱仪(AAS)、紫外-可见分光光度计(UV-Vis)用于分离镉、铅、汞、六价铬,气相色谱(GC)、气相色谱-质谱联用仪(GC-MS)用于分析和醚.
采用XRF设备应用于有害元素测试中的优势：
1.分析样品无损、，针对未知样品可以分析；
2.可采用小型的XRF设备进行便携测试。
3.在保证工作曲线完善和样品前处理的情况下，其测试结果重复性好、准确度高。
4.多元素可同时测试得出结果，一次可测试元素二十多个以上；
5.可用于生产中的过程内部控制，测试可达到在线、速度快，反应生产线等特点。

X射线荧光光谱仪 -主要用途
仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，有害元素光谱仪供应的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的大尺寸要求为直径51mm,高40mm. 
X射线荧光光谱仪分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析,顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 能量色散X射线荧光光谱能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光X射线荧光光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。近年来，采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。

检测限满足多需求
1、采用有害元素光谱仪**技术――特的激发X光源，样品激发结构和探测系统，提高仪器元素的检测灵敏度（降低检出限），分析含量一般为0.1ppm到99.9％，比普通XRF仪器金属中Pb有害元素光谱仪供应10倍。
2、采用高分辨率SDD探测器和的数字多道技术，使仪器的计数率上限提高10倍，400W大功率光管的使用同样能够使仪器能够获得高的计数率达到100kcps，仪器元素的检测精度水平大为提高，检测；
3、准直器，滤光片自动切换，可适应不同的样品测试要求
4、二种光路系统跟据需要自由切换，**光路为有利于检测金属中Pb、As、Cr含量的有害元素。而测非金属有害元素可以采用标准直照射光路测定含量的有害元素有效。

关于辐射的一些重要数据
一个人一年吸收辐射在2000usv以内是正常的，对身体不会有影响
一般可以在加1000usv，也不会有太大影响，人士（经常使用X荧光仪器的人 ）可以加到20000usv是允许的，有的时候人士可以加到50000usv。
怀孕的人不要过20000usv
法律允许人一年所吸收辐射值为50000usv。
仪器由于包装材料好，不会放出X射线，只有口有X射线。人的手离口近，大概5cm，操作员手吸收辐射值为0.7usv/hr，按工作8小时，1周工作40个小时，一年工作48周计算：
      0.7usv×40hr ×48wk=1344usv/年
      如果每天用仪器工作2个小时，计算：
      0.7usv×10hr ×48wk=336usv/年    (远远小于国家限制）
用仪器对手打1小时，辐射吸收1000usv
注：如使用分离测试在一米外，吸收辐射值可以乎略不记。
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测
http://rohs168168.b2b168.com