



产品描述
RoHS是由欧盟立法制定的一项强制性标准,它的全称是《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》(Restriction of Hazardous Substances)。该标准已于2006年7月1日开始正式实施,主要用于规范电子电气产品的材料及工艺标准,使之更加有利于人体健康及环境保护。该标准的目的在于消除电机电子产品中的铅、汞、镉、六价铬、和醚共6项物质,并重点规定了铅的含量不能**过0.1%。新指令2011/65/EU(RoHS 2.0)以取代2002/95/EC(RoHS) 新指令已于2011年7月21日生效。
影响测试结果的因素:
表面是否有油污,或重金属污染。
表面有涂附层或电镀层。
金属表面有电镀层的,要测试内部金属的有害元素指标,应该尽可能将表面的镀层去处后测试。如:金属表面镀镍镀锌,可以使用“测有色金属中CrCdPbHg”项直接测试,但表面的镀层影响内部基材测试结果。
如果金属表面镀锡,将使用“测锡中的Pb”项测试,如果要测试基材的有害成分,将需要将表面的镀层去除。
与其它类金属物件或塑胶件混合测试。
样品过小,而测试时间比较短的情况下。
未按规定使用准直器。
有害元素检测中、快速分析检测设备选型的自我思考
1、设备简单易用(便携式仪器方便携带)
2、可快速对样品做定性分析
3、对样品可做半定量或准定量分析。
4、样品处理方法简单或无前处理
5、设备可靠、维修、维护简单
6、便捷、低廉的售后服务**
采用XRF设备应用于有害元素测试中的优势:
1.分析样品无损、快速,针对未知样品可以快速分析;
2.可采用小型的XRF设备进行便携测试。
3.在**工作曲线完善和样品前处理的情况下,其测试结果重复性好、准确度高。
4.多元素可同时测试得出结果,一次可测试元素二十多个以上;
5.可用于生产中的过程内部控制,测试可达到在线、速度快,快速反应生产线等特点。
性能特点
**薄窗X光管,指标达到**水平
的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置**了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然
标准配置
**薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
钢铁行业测试配件
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构,力度可靠的**
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测
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