元素分析范围硫(S)~ 铀(U)
分析检出限1ppm
分析含量ppm ~ 99.99%
探测器探测器
X光管X光管
《电子信息产品中有毒有害物质的检测方法》(以下简称《检测方法》,标准号为 SJ/T 11365-2006)对RoHS要求中有害元素测试方法给予了限定。其中X射线荧光光谱法(XRF)作为一种快捷、方便的方法被制定为筛选方法。使用X射线荧光光谱法(XRF)可对铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、铬(Cr)以及溴(Br)五种元素的相应标准样品进行测试。可是基于 XRF的原理所获得的结果只是元素的含量,也就是说如果这种筛选测试得到铬(Cr)或溴(Br)的含量,即使他们标也并不能代表有害物质(Cr VI)与阻燃剂PBB和PBDE)标,这个测试结果(指含有)只是含有相应有害物质的必要条件而并非充分条件。这也就是限值表中没有这两种有害物质不合格的限值判断依据的原因。
低检测限满足多需求
1、采用有害元素光谱仪**技术――特的激发X光源,样品激发结构和探测系统,提高仪器元素的检测灵敏度(降低检出限),分析含量一般为0.1ppm到99.9%,比普通XRF仪器金属中Pb有害元素光谱仪供应10倍。
2、采用高分辨率SDD探测器和的数字多道技术,使仪器的计数率上限提高10倍,400W大功率光管的使用同样能够使仪器能够获得高的计数率达到100kcps,仪器元素的检测精度水平大为提高,检测;
3、准直器,滤光片自动切换,可适应不同的样品测试要求
4、二种光路系统跟据需要自由切换,特殊**光路为有利于检测金属中Pb、As、Cr低含量的有害元素。而测非金属有害元素可以采用标准直照射光路测定低含量的有害元素有效。

采用XRF设备应用于有害元素测试中的优势:
1.分析样品无损、,针对未知样品可以分析;
2.可采用小型的XRF设备进行便携测试。
3.在保证工作曲线完善和样品前处理的情况下,其测试结果重复性好、准确度高。
4.多元素可同时测试得出结果,一次可测试元素二十多个以上;
5.可用于生产中的过程内部控制,测试可达到在线、速度快,反应生产线等特点。

性能优势
下照式:可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用
移动平台:精细的手动移动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达100W的功率实现高的测试效率
技术参数
元素分析范围:硫(S)~铀(U)
检出限:1ppm
分析含量:1ppm~99.99%
重复性:0.05%(含量96%以上)
稳定性:0.05%(含量96%以上)
环境温度:15℃~30℃
电源:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率:140±5eV
样品腔尺寸:439mm×300mm×50mm
仪器尺寸:550mm×410mm×320mm
仪器重量:45kg
仪器配置
移动样品平台
信噪比增强器
SDD探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机

X荧光分析仪器的种类
现在X荧光分析仪器主要分为两大类,一是:波长色散X荧光光谱分析仪;二是:能量色散X荧光分析仪器。这两种仪器的测试原理有所区别,在对样品激发其元素的特征X射线时,两种仪器的设计原理是相同的,在对特征X射线进行探测时,波长波长色散X荧光光谱分析仪,是检测的特征X射线的波长,即,X射线的波长性;而能量色散X荧光分析仪器,检测的是特征X射线的能量,即,X射线的粒子性。两种仪器的设计结构,探测方法有很大的区别。有害元素光谱仪仪器公司生产的EDX系列X荧光光谱仪器,就是采用了能量色散的原理设计制造。
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测
http://rohs168168.b2b168.com