元素分析范围硫（S）~ 铀（U）
分析检出限1ppm
分析含量ppm ~ 99.99％
探测器探测器
X光管X光管
ROHS检测仪采用X射线荧光光谱检测技术，引进美国制造的Si-PIN探测器，提高了检测范围及。卤素ROHS检测仪可准确检测铅、汞、镉、六价铬、、醚等有害重金属物质，广泛应用于电子产品生产、玩具制造、五金制造、海关、质检机构等领域。
ROHS检测仪性能优势介绍针对DX320L在各个领域的广泛应用，根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求，特别设计该款DX320L。应用新一代的高压电源和X光管，提高产的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率；了多年ROHS检测经验，应用新一代先进，分辨率的电制冷SDD半导体探测器,对六种有害元素尤其是Br、Cl等卤素进行了优化,提高仪器测试的稳定性和性。
低检测限满足多需求
1、采用有害元素光谱仪**技术――特的激发X光源，样品激发结构和探测系统，提高仪器元素的检测灵敏度（降低检出限），分析含量一般为0.1ppm到99.9％，比普通XRF仪器金属中Pb有害元素光谱仪供应10倍。
2、采用高分辨率SDD探测器和的数字多道技术，使仪器的计数率上限提高10倍，400W大功率光管的使用同样能够使仪器能够获得高的计数率达到100kcps，仪器元素的检测精度水平大为提高，检测；
3、准直器，滤光片自动切换，可适应不同的样品测试要求
4、二种光路系统跟据需要自由切换，特殊**光路为有利于检测金属中Pb、As、Cr低含量的有害元素。而测非金属有害元素可以采用标准直照射光路测定低含量的有害元素有效。
影响测试结果的因素：
表面是否有油污，或重金属污染。
表面有涂附层或电镀层。
金属表面有电镀层的，要测试内部金属的有害元素指标，应该尽可能将表面的镀层去处后测试。如：金属表面镀镍镀锌，可以使用“测有色金属中CrCdPbHg”项直接测试，但表面的镀层影响内部基材测试结果。
如果金属表面镀锡，将使用“测锡中的Pb”项测试，如果要测试基材的有害成分，将需要将表面的镀层去除。
与其它类金属物件或塑胶件混合测试。
样品过小，而测试时间比较短的情况下。
未按规定使用准直器。
X射线荧光光谱仪 -主要用途
仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，有害元素光谱仪供应的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的大尺寸要求为直径51mm,高40mm.
X射线荧光光谱仪分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析,顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 能量色散X射线荧光光谱能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光X射线荧光光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。近年来，采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。
性能特点
高效薄窗X光管，指标达到先进水平
的数字多道技术，让测试快，计数率达到100000CPS，高。在合金检测中效果好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
标准配置
高效薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
钢铁行业测试配件
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
有害元素光谱仪生产的X荧光仪器，就是秉承X荧光的原理设计制造的，同时为了满足不同应用领域的客户，采用化的设计思路，在软件与硬件设计上支持客户应用设计，贴近客户实际使用要求。
产品优势
XRF-X射线荧光光谱仪，ROHS六项的优点主要有六个组成部分，他们分别是：
1.分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，60～200分钟就可以测完样品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl、待测元素。
2.X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在软X射线范围内，这种效应为显著。波长变化用于化学位的测定 。
3. 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
4. ROHS六项是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析.
5. 分析精密度高。
6.制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
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