元素分析范围硫（S）~ 铀（U）
分析检出限1ppm
分析含量ppm ~ 99.99％
外观尺寸550×416×333mm
样品腔尺寸460×298×98mm
RoHS检测仪的原理
X射线光谱仪（rohs检测仪）通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子和控制部件，相对简单。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。
性能优势
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达100W的功率实现更高的测试效率
技术参数
元素分析范围：硫（S）～铀（U）
检出限：1ppm
分析含量：1ppm～99.99％
重复性：0.05％（含量96％以上）
稳定性：0.05％（含量96％以上）
环境温度：15℃～30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：140±5eV
样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
仪器尺寸：550mm×410mm×320mm
仪器重量：45kg
仪器配置
移动样品平台
信噪比增强器
SDD探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
仪器了解
仪器采用X射线管而非放射源，所以不会存在像放射源设备那样存在很大危害
不会受到国家严格限制
使用、运输都很方便
仪器在工作状态下（扣下后或软件开启后），仪器本身，如：手柄、机身都已经安全包装，不会有X射线放出
只有在仪器前方窗口会有X射线光束， 仪器在工作时，前方不要站人，更不要把仪器窗口对人。
检测限满足更多需求
1、激发X光源，样品激发结构和探测系统，提高仪器元素的检测灵敏度（降低检出限），分析含量一般为0.1ppm到99.9％，比普通XRF仪器金属中Pb检出限低10倍。
2、采用高分辨率SDD探测器和的数字多道技术，使仪器的计数率上限提高10倍，400W大功率光管的使用同样能够使仪器能够获得更高的计数率达到100kcps，仪器元素的检测精度水平大为提高，检测更快速；
3、准直器，滤光片自动切换，可适应不同的样品测试要求
4、二种光路系统跟据需要自由切换，光路为有利于检测金属中Pb、As、Cr含量的有害元素。而测非金属有害元素可以采用标准直照射光路测定含量的有害元素更快速有效。
X射线荧光光谱仪 -主要用途
仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的大尺寸要求为直径51mm,高40mm.
X射线荧光光谱仪分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析,顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 能量色散X射线荧光光谱能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光X射线荧光光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。近年来，采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。
在软件与硬件设计上支持客户应用设计，更贴近客户实际使用要求。
产品优势
XRF-X射线荧光光谱仪，ROHS六项的优点主要有六个组成部分，他们分别是：
1.分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，60～200分钟就可以测完样品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl、待测元素。
2.X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在**软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。
3. 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
4. ROHS六项是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析.
5. 分析精密度高。
6.制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
http://rohs168168.b2b168.com
